元素分析

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原子吸收光谱


原子吸收光谱

独创的省力且多重任务处理功能,卓越的多功能处理基本性能,具有简易的AA安装向导,可以满足客户广泛的分析要求。

主要功能/特点:

  • 消除酸类,有机溶剂和其他化学药物的分解
  • 超高灵敏度分析
  • 包含QA/QC功能
  • 性能参数

    光学器件 电力双光束
    波长范围 190 to 900 nm
    底座 色差校正闪耀式光栅底座>
    频宽 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0 nm
    灯的数量 灯转台,灯同时亮

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    辉光放电光谱仪


    电解镍回收技术

    射频辉光放电发射光谱法(RF-GD-AES)堀场可用于导电和非导电材料。它还可以分析表面直径大于4mm材料,。在总共43个元素,H, O, N, C 和 Cl,,可以利用辉光放电(GD)的决定。

    主要应用/优势:

    GD分析主要用于表面分析,散装分析和深度剖面分析。例如,GD可用于分析锌镍涂层。

    详细描述:


    资源 无线电频率
    探测器 光学发射光谱仪
    样品形状 未加工, 直径 ≥ 4mm
    检测灵敏度 ppm (mg/L)

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    X射线衍射


    X射线衍射

    X射线衍射用X射线束通过入射光的光学,这将产生衍射和光束叠加。衍射光束进入发电机创造的X射线衍射谱。不同的材料会产生不同的结构和组件的特征衍射谱,允许保质保量的材料的定量分析。

    主要应用/优势:
    X射线衍射的主要应用是材料结构分析,如晶体结构和晶体取向,结晶百分比和晶粒尺寸,层缺陷和结构鉴定的粉末样品。这样的一个例子是TiC涂层的分析。

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    XRF涂层测厚仪


    电解镍回收技术

    该测厚仪使用灵敏的,无接触的,非破坏性的方法测量0.05μm到70μm的金属及非金属材料涂膜厚度

    该测厚仪广泛用于确定:

  • 涂层材料的厚度
  • 通过频谱匹配确定元素类型
  • 孔洞中材料的厚度
  • 溶液中的金属元素

  • 该测厚仪的优势:

  • 高效的激光聚焦原理
  • 自动测量功能
  • 薄膜FP软件(应用广泛包括多重涂层和无铅涂层)
  • 报告输出软件(通过宏增强型软件打印出测量报告)
  • 快速,可靠,精确的测量
  • 规格:

  • 能确定至少35种类型的电镀层,i.e. Au, Ag, Pd, Pd-Ni, Ni-B, Ni-Co, etc
  • 测量从钛到铋的宽频元素
  • 瞄准仪尺寸小至0.05mm ,可以用在较小的测量区
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