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X射线光电子能谱分析法


X射线光电子能谱分析法

利用扫描电子显微镜(SEM)分析,导电和非导电材料的形态,通过使用不同的探测器,SE和BSE可以同时检测导电及不导电材料。 通过EDX分析,使检查和量化大多数除了为氢,锂和氦的大多数元素成为可能。扫描方式有三种类型:线性分析,现场分析和选定区域分析。

主要应用/优势:
用扫描电子显微镜,它有可能获得表面形貌,污染和组件,以及晶粒尺寸,结节和型腔,涂层厚度。尤其是映射功能,可用于识别不同阶段的分布。

详细描述:

却系统 液氮
探测器 SE, BSE, ESED
放大倍率 30,000x
分辨率 3.0 ~ 4.5nm

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电化学扫描显微镜


电化学扫描显微镜

使用SE或BSE不同的检测器,导电和非导电材料的形貌都可以被检测。EDX分析:除了H,Li和He,其它元素都能被检测并定量扫描方式:线分析,点分析和面分析获得表面形貌,污染和成分分析,还有晶粒度,结节,空洞和涂膜厚度。映像功能可以鉴定不同界面的分布。

规格:

冷却系统 液态氮气
检测器 SE, BSE, ESED
放大倍率 30,000x
分辨率 3.0 ~ 4.5nm

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数码显微镜


电解镍回收技术

该显微镜拥有最快速的即时显示深度构成和3D功能。包括集成了54兆像素3CCD笔式摄像机,15英寸搞清液晶显示器和其一些设备。

主要应用/优势:

  • 54兆像素3CCD
  • 行业中最快速的3D显示功能
  • 行业第一,对比度最佳

  • 详细描述:

    摄像机分辨率 百万像素
    液晶显示器尺寸 彩色液晶显示器
    液晶面板尺寸 304.5(H)×228.4(V)mm
    像素 1600(H) ×1200(V)(UXGA)

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